Defect analysis in electron microscopy M. H. Loretto , R. E. Smallman

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Archivo de ordenadorDetalles de publicación: London Chapman and HallEdición: 1st edDescripción: 134 p. il. bynISBN:

Contenidos:

Basic electron microscope operation

The formation and analysis of diffraction patterns

An introduction to image contrast

Analysis of crystal defects

Further techniques of defect analysis

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Tipo de ítem	Biblioteca actual	Signatura topográfica	Estado	Fecha de vencimiento	Código de barras
Libro	Biblioteca Dr. Jorge S. Muntaner Coll	620.191.4=111 LOR (Navegar estantería(Abre debajo))	Disponible		002084

Apéndices e índice alfabético, al final del libro

Referencias bibliográficas p. 131

Basic electron microscope operation

The formation and analysis of diffraction patterns

An introduction to image contrast

Analysis of crystal defects

Further techniques of defect analysis

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